ch04材料现代分析测试方法概述作业答案.doc

ch04材料现代分析测试方法概述作业答案.doc第四章材料现代分析测试方法概述一、教材****题4-11试为下述分析工作选择你认为恰当的(一种或几种)分析方法(1) 钢液中Mn、S、P等元素的快速定量分析答:元素定量分析的方法很多,如化学分析、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)、原子吸收光谱(或叫原子吸收分光光度法,AAS)、原子荧光光谱(或叫原子荧光光度法,AFS)、X射线荧光光谱(XRF或XFS)等。因为XRF制样相对简单、快速,所以可选用XRF进行快速定量分析。如果是在线分析,可用光导纤维将钢液发射的光引入原子发射光谱仪进行定量分析,当然定量的准确度和精度不是很高。(2) 区别FeO、Fe2()3和Fe3()4答:FeO、Fe2O3和FesCU中铁(Fe)的价态不同,如果是独立的样品,用穆斯堡尔谱很容易区别,但仪器不常见。由于这三种物相的成分比和结构不同,那么它们的衍射花样也不同,如果样品足够多,用X射线衍射(XRD)区别;如果是薄晶中的细小晶粒,可用透射电镜(TEM)中的电子衍射(ED)区别。由于它们的成分比和结构不同,红外光谱特征也不同,所以也可用红外光谱来区别。在氧化气氛(如空气)中加热,它们的热重曲线或差热曲线特征不同,所以也可用热重法(TG)或差热分析(DTA)来区别。当然X射线光电子能谱(XPS)或紫外光电子能谱(UPS)等方法也可用来区别这三种物相,但这些方法的仪器不常见,且测试价格较贵。(3) 测定Ag的点阵常数答:晶体点阵常数的测定通常采用衍射法。如果样品足够多,用粉末X射线衍射(XRD)仪法测定晶体的点阵常数是最方便、最快捷、最准确、最便宜的方法。如果是薄晶中分散的银,不能用X射线照相法或衍射仪法,可用透射电镜(TEM)中的电子衍射(ED)来测定其点阵常数。虽然中子衍射也可以测定点阵常数,但仪器难得、价格昂贵、结果也不是很准确(相对于XRD)0⑷测定高纯Y2O3中稀土杂质元素质量分数答:原子吸收光谱(AAS),或电感耦合等离子体发射光谱(ICP・AES),或X射线荧光光谱(XRF),或原子荧光光谱(AFS)。原子吸收光谱(AAS)是定量分析样品中杂质元素含量的最常用方法。普通的原子发射光谱仪(AES)只能做元素的半定量分析;而电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES)可进行元素的定量分析,但价格昂贵,一般分析实验室没有配置。X射线荧光光谱(XRF)是固体样品常规元素定性、定量分析的常用方法,但含量较低的元素的测定,准确度不如AAS。原子荧光光谱(AFS)相对于AAS的检出限低、灵敏度髙,但仪器不常见。(5) 砂金中含金量的检测答:原子吸收光谱(AAS),或电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES),或X射线荧光光谱(XRF),或化学分析等。砂金是指含金砂经过分选后得到的矿产品,通常含有较多的杂质,需进行含金量检测,方法很多。可直接用固体样品,通过制样后用XRF检测含金量。也可将杂质溶解在溶液中,用AAS或ICP-AES或AFS分析杂质元素的含量,以检测含金量。(6) 黄金制品中含金量的无损检测;答:制品大小合适,可用电子探针(EPMA),或带波谱仪(或能谱仪)的扫描电镜(SEM),或X射线荧光光谱(XRF)。无损检测是指检测对象不能遭受破坏,如原子光谱(AES、AAS、AFS)要制样才能分析的方法不能采用。(7) 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析答:定性分析