OICT33集成电路测试仪操作指南.doc

OICT-33集成电路测试仪操作指南开箱验机按装箱单验收主机1台三芯电源线1根说明书1份特殊器件测试板1块连接电缆1根保修单1份开机自检将电源线接于仪器后部插座内,打开仪器的电源开关,此时仪器应有以下反应:液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态:自检正常,有两声低音提示,显示屏显示“PLEASE”,可进行正常测试操作。在仪器显示“PASS”、“FAIL”、“PLEASE”时,可用“F1”键来循环选择测试电压,每按一次“F1”键就更换一种测试电压,确认后按其它任意键即可完成选择。自检失败,有两声低音提示,显示“1—”数值。自检失效时,不能进行各项操作,此时请确认以下内容:锁紧插座上无集成电路。锁紧插座任意两脚之间无短路线。电源电压在规定范围内。如果以上各点均正常,即表明仪器损坏,请及时与厂商联系。产品操作部件介绍产品部件名称请见图一、图二。PASS指示灯FAIL指示灯图一键盘主机显示屏电源指示灯锁紧插座控制棒锁紧插座备用电源负极备用电源正极散热孔电源开关220V电源插座图二操作键功能:“O”~“F”键为数字键,用于输入被测器件的型号、引脚数目及编辑状态时输入地址、数据。“代换查询”键为功能键。至少输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受。“好坏判别/查空”键为复合功能键。若输入的型号为EPROM器件型号(即27系列),则它使仪器对被测器件进行查空操作;在其他型号时,它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键,则至少要输入型号的三位数字后,输入该键才能被接受;若在没有输入器件型号的时候输入该键,则仪器将按前一次输入的器件进行测试。此功能用于测试多只相同的器件。“型号判断”键为功能键,在未输入任何数字的前提下输入该键才有效。“编辑/退出”键为功能键,它使仪器进入或退出数据编辑状态。“老化/比较”键为复合功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键的功能是将被测器件内部的数据与仪器内部的数据进行比较;在其它型号时,该键使仪器对被测器件进行连续老化测试。“读入”键为功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键功能是将被测器件内部的数据读入到仪器内部并保存。“写入”键为功能键,当输入型号为EPROM、EEPROM器件时,该键功能是将仪器内部的数据写入到被测器件中,并作自动比较。“清除”键为功能键,当输入操作错误时,可用该键结束操作,或将已输入的型号清除,重新输入新的型号。“F1/上”、“F2/下”键均为操作键,仅在数据编辑状态下有效,它使当前编辑的地址值自动加1或减1。锁紧插座操作方法:OOICT—33C使用进口通用锁紧插座。锁紧插座有松开及锁紧状态。当操作杆竖立时,为松开状态,可取下或放上被测器件;当操作杆平放时,为锁紧状态,可对器件进行测试。当处于锁紧状态时,请勿放上或取下被测器件,否则将损坏锁紧插座。基本操作(以测试74LS00为例)开启电源:开启电源时,锁紧插座上不能放有集成块,否则将会损坏该集成块,仪器自检将失效。器件好坏判别:自检正常后,显示PLEASE。输入7400,显示7400。确认无误后,将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧,如图三所示。图三按下“好坏判别”键。若显示PASS,并伴有高音提示,表示器件逻辑功能完好,黄色LED灯点亮。若显示FALL,同时有低音提示,表示器件逻辑功能失效,红色LED灯点亮。大多数器件测试时间极短,但也有部分器件测试时间较长(例如存储器),测试过程中仪器不接受任何命令输入。器件老化测试输入7400,显示7400。将74LS00放上锁紧插座并锁紧,按“老化”键,仪器即对被测器件进行连续测试。此时键盘退出工作,若用户想退出老化测试状态,只要松***紧插座即可,此时仪器将显示FAIL,同时键盘恢复工作。对多只相同型号的器件进行分时老化时,每换一只器件都要重新输入型号。器件型号判别:将被测器件插于锁紧插座并锁紧,按“型号判别“键,仪器显示P,请用户输入被测器件引脚数目,如有14只脚,即输入14,仪器显示P14。然后再按“型号判别”键。若被测器件功能完好,并且其型号在本仪器容量以内,此时仪器直接显示被测器件的型号,例如7400若被测器件已损坏,或其型号不在本仪器测试容量以内,仪器将显示OFF,并伴有低音提示,随后再显示PLEASE。进行型号判别时输入的器件引脚数目必须是两位数,若被测器件只有8只引脚,则要输入08。当被测器件是EPROM、EEPROM时,不能进行型号判别。由于本仪器是以被测器件的逻辑功能来判定其型号,因此当各系列中还有其它逻辑功能与被测器件逻辑功能完全相同的其它型号时,仪器显示出的被测器件型号可能与实际型号不一致,这取决于该型号在测试软件中的存放顺序。出现这种现象时,说明仪器显示的型号与