2013年全国大学生电子设计竞赛E题：简易频率特性测试仪.doc

2013年全国大学生电子设计竞赛E题:简易频率特性测试仪
2013年全国大学生电子设计竞赛
简易频率特性测试仪(E题)
【本科组】
2013年9月7
日
简易频率特性测试仪
摘要:本系统以STM32控制器为核心,采用DDS芯片AD9854产生稳定的正交信号源,通过正交调制的方式完成对被测网络的幅频和相频特性测量,能够实现对被测网络的点频和线性扫频测量,并采用彩色液晶进行数字化的图形显示。测试结果表明,本设计能够实现在1M~40MHz频率范围内,对被测网络频率特性的测试,正确显示其中心频率和3dB带宽,并且能够任意设置扫频步进和扫频范围,实现频率的粗扫描和精细扫描,,相位精度优于5度。关键字:正交调制、频率特性、DDS
I
目录
1方案论证....................................................................................................................................... 1
............................................................................................................................ 1
........................................................................................................................ 1
2理论分析与计算........................................................................................................................... 1
................................................................................................................................ 1
DDS参数设计........................................................................................................................ 2
.................................................................................................................... 2
ADC设计............................................................................................................................... 2
........................................................................................................................ 2
特性曲线显示........................................................................................................................ 3
3电路与程序设计........................................................................................................................... 3
DDS电路设计........................................................................................................................ 3