ATR附件的应用应用工程师田生梁电话:135602773201ATR附件的应用ATR附件工作原理2ATR附件的应用?ATR附件工作原理入射深度=其中λ为入射波长n1为晶体折射率n2为样品折射率θ为入射角度一般来说,入射深度为几微米由于入射深度与波长有关,用ATR测试光谱时,会产生畸变。在低波数范围信号强度增大,高波数端信号强度减小,发生谱峰相对强度畸变。当选择结果谱图为“ATR谱”时,OPUS软件自动进行校正。3ATR附件的应用?ATR特点:1、ATR测试几乎不需要样品前处理2、ATR是非破坏性分析方法,能够保持样品原貌进行测定4ATR附件的应用获得高质量ATR谱图的重要条件:※尽可能使样品与ATR晶体紧密接触,提高接触效率。※采取措施:1、样品检测面尽可能平整。2、针对固体样品,施加压力。5ATR附件的应用测试固体样品对固体样品具体要求:检测面平整;不得刮花或者压坏ATR检测晶体。6
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