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ATR附件的应用
应用工程师田生梁
电话:**********
ATR附件的应用
ATR附件工作原理
ATR附件的应用
ATR附件工作原理
入射深度=
其中λ为入射波长
n1为晶体折射率
n2为样品折射率
θ为入射角度
一般来说,入射深度为几微米
由于入射深度与波长有关,用ATR测试光谱时,会产生畸变。在低波数范围信号强度增大,高波数端信号强度减小,发生谱峰相对强度畸变。当选择结果谱图为“ATR谱”时,OPUS软件自动进行校正。
ATR附件的应用
ATR特点:
1、ATR测试几乎不需要样品前处理
2、ATR是非破坏性分析方法,能够保持样品原貌进行测定
ATR附件的应用
获得高质量ATR谱图的重要条件:
※尽可能使样品与ATR晶体紧密接触,提高接触效率。
※采取措施:
1、样品检测面尽可能平整。
2、针对固体样品,施加压力。
ATR附件的应用
测试固体样品
对固体样品具体要求:检测面平整;不得刮花或者压坏ATR检测晶体。
应用工程师田生梁
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ATR附件工作原理
ATR附件的应用
ATR附件工作原理
入射深度=
其中λ为入射波长
n1为晶体折射率
n2为样品折射率
θ为入射角度
一般来说,入射深度为几微米
由于入射深度与波长有关,用ATR测试光谱时,会产生畸变。在低波数范围信号强度增大,高波数端信号强度减小,发生谱峰相对强度畸变。当选择结果谱图为“ATR谱”时,OPUS软件自动进行校正。
ATR附件的应用
ATR特点:
1、ATR测试几乎不需要样品前处理
2、ATR是非破坏性分析方法,能够保持样品原貌进行测定
ATR附件的应用
获得高质量ATR谱图的重要条件:
※尽可能使样品与ATR晶体紧密接触,提高接触效率。
※采取措施:
1、样品检测面尽可能平整。
2、针对固体样品,施加压力。
ATR附件的应用
测试固体样品
对固体样品具体要求:检测面平整;不得刮花或者压坏ATR检测晶体。
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